Thomas Höche, patents 2004 - 2010

11.

S. Albert, Th. Höche, T. Petsch, and B. Keiper:
"Laser marking method, laser marking apparatus and optical element"
JP 2010-105046 A (20.10.2009).
10. T. Petsch, B. Keiper, S. Albert, and Th. Höche:
"Lasermarkierverfahren, Lasermarkiervorrichtung und Optikelement"
EP 2184127 A1 (26.10.2009).
[pdf]
9. T. Petsch, B. Keiper, S. Albert, and Th. Höche:
"Laser marking method, laser marking apparatus and optical element"
US 8,115,792 B2 (27.10.2009).
[pdf]
8. Th. Höche:
"Method and device for producing samples for transmission electron microscopy"
JP 2010-091562 A (5.10.2009).
7. Th. Höche:
"Method and apparatus for producing samples for transmission electron microscopy"
US 8,071,960 B2 (9.10.2009).
[pdf]
6. T. Petsch, B. Keiper, S. Albert, and Th. Höche:
"Lasermarkierverfahren, Lasermarkiervorrichtung und Optikelement"
DE 10 2008 056 136 A1 (29.10.2008).
[pdf]
5. Th. Höche:
"Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von Proben für die Transmissionselektronenmikroskopie"
DE 10 2008 052 006 A1 (10.10.2008).
[pdf]
4. Th. Höche, B. Keiper, T. Petsch, and M. Lasch
"Verfahren und Vorrichtung zum Laserschneiden"
DE 10 2008 000 306 B4 (15.2.2008).
[pdf]
3. Th. Höche, B. Keiper, and T. Petsch:
"Vorrichtung zur Erzeugung von Mikrolöchern"
DE 10 2007 032 231 A1 (11.7.2007).
[pdf]
2. Th. Höche, J. Hänel, and T. Petsch:
"Verfahren zur Herstellung von zur Untersuchung mittels Transmissionselektronenmikroskopie geeigneten Proben"
DE 10 2004 001 173 B4 (5.1.2004).
[pdf]
1. Th. Höche, J. Hänel, and T. Petsch:
"Probe für elektronenmikroskopische Untersuchungen"
DE 103 58 182 B4 (12.12.2003).
[pdf]