Thomas Höche, patents 2011 - ...

27.

Th. Höche, G. Schusser, and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
US 2016/0356683 A1 (3.6.2016).
[pdf]
26. Th. Höche and M. Krause:
"Verfahren zur Präparation einer Probe für die Mikrostrukturdiagnostik sowie Probe für die Mikrostrukturdiagnostik"
DE 10 2015 219 298 A1 (6.10.2015).
[pdf]
25. Th. Höche, M. Krause, and G. Schusser:
"Method for preparing a Sample for the Microstructure Diagnostics and Sample for Microstructure Diagnostics"
EP 3 101 406 A1 (5.6.2015).
[pdf]
24. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
JP 2014 202 756 A (4.4.2014).
[pdf]
23. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
CN 104 101 510 A (4.4.2014).
[pdf]
22. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
US 9,492,893 B2 (2.4.2014).
[pdf]
21. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
TW 2014 47 260 A (2.4.2014).
20. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
KR 10 2014 063 732 A (9.8.2012).
[pdf]
19. Th. Höche:
"Method and device for the preparation of a sample for microstructure diagnostics"
EP 2 748 579 B1 (9.8.2012).
[pdf]
18. Th. Höche:
"Method and device for the preparation of a sample for microstructure diagnostics"
CN 103907005 A (9.8.2012).
[pdf]
17. Th. Höche and M. Krause:
"Method and arrangement for manufacturing a sample for microstructural materials diagnostics and corresponding sample"
EP 13162360 (4.4.2013).
[pdf]
16. S. Albert, Th. Höche, K. Mittwoch, and M. Sachse:
"Verfahren und System zum Produktschutz"
DE 10 2012 006 958 A1 (2.4.2012).
[pdf]
15. S. Albert, M. Dost, J. Hammacher, Th. Höche, Th. Lauenstein, K. Mittwoch, T. Petsch, M. Sachse, L. Scheiter, and B. Seiler:
"Verfahren und System zur Authentifizierung und Identifizierung von Objekten"
DE 10 2012 205 347 A1 (2.4.2012).
[pdf]
14. Th. Höche:
"Method and Device for Preparation of a Sample for Microstructure Diagnostics"
WO 2013/026707 A1 (9.8.2012).
[pdf]
13. Th. Höche:
"Verfahren und Vorrichtung zur Präparation einer Proben für die Mikrostrukturdiagnostik"
DE 10 2011 111 190 A1 (25.8.2011).
[pdf]
12. Th. Höche, H. Bär, R. Klukas, and K. Mittwoch:
"Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren einer Markierung an einem Objekt"
DE 10 2011 078 833 A1 (7.7.2011).
[pdf]